English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 2471/17084 (14%)
造訪人次 : 3194383      線上人數 : 801
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://utaipeir.lib.utaipei.edu.tw/dspace/handle/987654321/15588


    題名: 貝氏三階層IRT隨機截距之潛在迴歸模式的發展與應用
    作者: 黃宏宇;洪素蘋
    貢獻者: 臺北市立教育大學心理與諮商學系
    關鍵詞: 重要他人回饋;創意生活經驗;創意自我效能;創意動機
    日期: 2010-09
    上傳時間: 2017-02-21 20:02:43 (UTC+8)
    摘要: 傳統試題反應理論中的潛在迴歸模式,自變項屬於觀察變項,其測量誤差往往被忽略。本研究旨在建構貝氏三階層IRI隨機截距項之潛在迴歸模式,除了透過一系列的模擬研究發展此模式之外,同時以兩個實徵研究說明此新模式之應用。本研究首先,將潛在自變項納入IRT的潛在迴歸模式中,同時考慮資料具有巢套的特性,並表徵在隨機截距項中。接著,模擬資料產生自貝氏三階層IRI隨機截距項之潛在迴歸模式,針對模式適配度進行探討。模式絕對性適配指標(PPMC)採用的是各受試群體在效標變項上平均觀察分數分布之標準差,而DIC則是用來進行模式競爭,以此兩個指標用來診斷資料與模式的適配程度。此外,在參數回復性方面,在貝氏三階層IRT隨機截距項之潛在迴歸模式分析下,各項參數回復性均佳,但如果忽略隨機截距項的存在,則會造成潛在迴歸方程式中殘差變異數估計值的嚴重偏誤,低估參數估計的分散程度,且高估測驗的信度。本研究也運用台灣教育長期追蹤資料庫(TEPS)的認知能力測驗,以及國中基本學力測驗(BCTEST)中數學科與英文科成績為例,作為兩個實徵研究來以說明貝氏三階層IRI隨機截距項之潛在迴歸模式之應用,最後提出理論與實務上相關的建議。
    關聯: 中華心理學刊; 52卷3期; 頁309-326
    顯示於類別:[心理與諮商學系] 期刊論文

    文件中的檔案:

    沒有與此文件相關的檔案.



    在uTaipei中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    如有問題歡迎與系統管理員聯繫
    02-23113040轉2132
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋